掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
jsm-it800shl 是日本電子株式會(huì)社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時(shí)將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時(shí)完成，而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時(shí)間:2024-10-21
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時(shí)間:2024-10-21
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。
更新時(shí)間:2024-10-21
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報(bào)告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時(shí)間:2024-10-21
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時(shí)間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時(shí)間:2024-10-21
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時(shí)間:2024-10-21
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2024-10-21
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2024-10-21
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時(shí)間:2024-10-21
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時(shí)間:2024-10-21
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時(shí)間:2024-10-21
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時(shí)間:2024-10-21
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時(shí)間:2024-10-21
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時(shí)間:2024-10-21
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢，采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì)，完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時(shí)，由于采用0.1-3thz波段的時(shí)域太赫茲光源（thz-tds），也可以實(shí)現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時(shí)測量。
更新時(shí)間:2024-10-21
德國ksi i-wafer型全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測
更新時(shí)間:2024-10-21
ksi i-ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測時(shí)間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時(shí)間:2024-10-21
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時(shí)間:2024-10-21
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲(chǔ)存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時(shí)間:2024-10-21
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲(chǔ)存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時(shí)間:2024-10-21
sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實(shí)驗(yàn)室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時(shí)間:2024-10-21
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:2024-10-21
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:2024-10-21
ss-60系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間小；放大倍率30 ~60,000 x，15nm分辨率；采用二次電子和背散電子雙重探測器；ss-60掃描電鏡具有強(qiáng)大軟件功能,操作簡單,易于維護(hù)；國產(chǎn)掃描電鏡，良好售后服務(wù)系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2024-10-21
ss-150系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間?。环糯蟊堵?0~150,000 x ；5nm分辨率；采用二次電子和背散電子雙重探測器；通過選配eds可進(jìn)行元素成份分析；ss-150系列掃描電鏡具有強(qiáng)大軟件功能,操作簡單,易于維護(hù)；國產(chǎn)掃描電鏡，良好售后服務(wù)系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2024-10-21
掃描電子顯微鏡 (sem) 不僅是開展科研工作所必不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是不可或缺的。 在這些場景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 jsm-it510 新增的“簡單 sem”功能，用戶可將 sem 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它”，從而更高效、更輕松地完成 sem 觀察。
更新時(shí)間:2024-10-21
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2024-10-21
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:2024-10-21
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2024-10-21
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:2024-10-21
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點(diǎn)： 1. 新型
更新時(shí)間:2024-10-21
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，強(qiáng)大的自動(dòng)化功能，操作更簡易。 特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動(dòng)功能，包括自動(dòng)燈絲飽和、4偏壓、自動(dòng)槍對中、自動(dòng)束流設(shè)定、 自動(dòng)合軸自動(dòng)聚焦和消像散、自動(dòng)亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時(shí)
更新時(shí)間:2024-10-21
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時(shí)可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺可以傾
更新時(shí)間:2024-10-21
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2024-10-21
sem3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深，成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性，助您在顯微成像的中盡情探索。
更新時(shí)間:2024-10-18
國儀量子場發(fā)射掃描電鏡sem5000，可實(shí)現(xiàn)低電壓高分辨成像，磁性樣品也可適用，豐富的接口，滿足多樣的需求，精心設(shè)計(jì)的人機(jī)交互方便操作，快速上手
更新時(shí)間:2024-10-18
db500擁有自主可控的場發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒，是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術(shù)（supertunnel）、低像差無漏磁物鏡設(shè)計(jì)，低電壓高分辨率成像，保證納米分析能力。“承影”離子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源，擁有高穩(wěn)定、高質(zhì)量的離子束流，保證納米加工能力。集成式的納米機(jī)械手、氣體注入器、電子物鏡防污染機(jī)構(gòu)，擁有24個(gè)擴(kuò)展口，配置全面，自主可控，擴(kuò)展性強(qiáng)，為您打造全能納米分析和加
更新時(shí)間:2024-10-18
sem5000x是一款超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡，其分辨率達(dá)到了突破性的0.6 nm@15 kv和1.0 nm@1 kv。高分辨物鏡設(shè)計(jì)、高壓隧道技術(shù)（supertunnel）以及鏡筒工藝升，實(shí)現(xiàn)了低電壓分辨率的進(jìn)一步提升。全新設(shè)計(jì)的樣品倉，擴(kuò)展接口增加至16個(gè)，快速換樣倉大支持8寸晶圓（大直徑208 mm），大擴(kuò)展應(yīng)用范圍。高掃描模式和自動(dòng)功能增強(qiáng)，帶來了更強(qiáng)的性能和更好的體驗(yàn)。
更新時(shí)間:2024-10-18
產(chǎn)品說明： kyky-2800型掃描電子顯微鏡是中國科學(xué)院在幾十年的掃描電鏡研究和生產(chǎn)基礎(chǔ)上，引用現(xiàn)代最新計(jì)算機(jī)及數(shù)字圖像技術(shù)， 開發(fā)出的高性能產(chǎn)品。該產(chǎn)品除具有原kyky電鏡優(yōu)良工藝和穩(wěn)定可靠特性外，新增加了各種計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制及調(diào)節(jié)功能，尤其是采用了專用圖像處理器進(jìn)行圖像分析處理，使掃描電鏡與圖像分析得到完美結(jié)合。在window
更新時(shí)間:2024-10-10
類型 電子顯微鏡 品牌 中科 型號 kyky-em6900 目鏡放大倍數(shù) n/a 物鏡放大倍數(shù) n/a 儀器放大倍數(shù) 1.5-300000x 加工定制 否
更新時(shí)間:2024-10-10
產(chǎn)品說明： kyky-em3200系列掃描電鏡在電氣控制系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動(dòng)控制功能 等諸多方面都進(jìn)行了改進(jìn)。主要特點(diǎn)是穩(wěn)定可靠、結(jié)構(gòu)緊湊、操作方便、維護(hù)簡單，是一款性價(jià)比較高的經(jīng)濟(jì)型電鏡。
更新時(shí)間:2024-10-10
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報(bào)告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報(bào)告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報(bào)告。此外，選配項(xiàng)還可實(shí)現(xiàn)更多功能?？稍跇悠穫}內(nèi)加裝光學(xué)相機(jī)來拍攝照片，以往通過經(jīng)驗(yàn)尋找目標(biāo)位置*1，現(xiàn)在可
更新時(shí)間:2024-10-09
“regulus系列“是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機(jī)型開發(fā)的 “regulus8100“ 以及su8200系列的升 “regulus8220“ “regulus8230“ “regulus8240“，共4個(gè)機(jī)型，均實(shí)現(xiàn)了分辨率和操作性的強(qiáng)化。
更新時(shí)間:2024-10-09
此次推出的su7000采用全新設(shè)計(jì)的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。
更新時(shí)間:2024-10-09
在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)域里，從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大，但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應(yīng)的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時(shí)需要進(jìn)行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細(xì)形貌和進(jìn)行各種分析則成為重要的課題。
更新時(shí)間:2024-10-09
最新產(chǎn)品
- MOOG備件 上海祥樹 優(yōu)勢報(bào)價(jià) 2024/10/22 13:32:01
- B+R 上海祥樹 優(yōu)勢報(bào)價(jià) 2024/10/22 13:30:53
- 農(nóng)田小氣候觀測系統(tǒng) 2024/10/22 13:30:15
- 在線pH計(jì) 2024/10/22 13:30:13
- GEMU備件 上海祥樹 優(yōu)勢報(bào)價(jià) 2024/10/22 13:29:48
- Rat Ache(Acetylcholinesterase) ELISA Kit 2024/10/22 13:29:36
- Rat Ache(Acetylcholinesterase) ELISA Kit 2024/10/22 13:29:35
- Rat Ache(Acetylcholinesterase) ELISA Kit 2024/10/22 13:29:35
- Rat Ache(Acetylcholinesterase) ELISA Kit 2024/10/22 13:29:34
- Rat Ache(Acetylcholinesterase) ELISA Kit 2024/10/22 13:29:33
- 手術(shù)動(dòng)力系統(tǒng) 2024/10/22 13:28:39
- 水庫水質(zhì)監(jiān)測設(shè)備 2024/10/22 13:28:26
- 肺功能檢測系統(tǒng) 2024/10/22 13:27:56
- Rat Ach(Acetylcholine) ELISA Kit 2024/10/22 13:26:51
- Rat ACP(Acid Phosphatase) ELISA Kit 2024/10/22 13:26:50
- Rat Ach(Acetylcholine) ELISA Kit 2024/10/22 13:26:49
- 魚塘多參數(shù)水質(zhì)監(jiān)測站 2024/10/22 13:25:50
- 高頻振動(dòng)排痰系統(tǒng) 2024/10/22 13:24:49
- 尾礦庫安全監(jiān)測系統(tǒng) 2024/10/22 13:23:41
- 免散瞳眼底照相機(jī) 2024/10/22 13:22:09
- 山體滑坡監(jiān)測預(yù)警系統(tǒng) 2024/10/22 13:21:44
- 體外除顫監(jiān)護(hù)儀 2024/10/22 13:18:00
- 美國HONEYWELL測厚儀備件05328500掃描架 2024/10/22 13:16:24
- 美國HONEYWELL測厚儀備件5356601掃描架 2024/10/22 13:15:32
- 美國HONEYWELL測厚儀備件5328300掃描架 2024/10/22 13:14:47
- 山體滑坡監(jiān)測預(yù)警系統(tǒng) 2024/10/22 13:14:11
- 美國HONEYWELL測厚儀備件05355400掃描架 2024/10/22 13:13:54
- 美國HONEYWELL測厚儀備件05332803掃描架 2024/10/22 13:13:03
- 美國HONEYWELL測厚儀備件05330500掃描架 2024/10/22 13:12:03
- 美國HONEYWELL測厚儀備件5329700掃描架 2024/10/22 13:11:15