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掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家

日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2024-10-21
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2024-10-21
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機構,在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2024-10-21
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機,實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測,并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析,超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2024-10-21
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2024-10-21
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2024-10-21
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2024-10-21
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2024-10-21
德Neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優(yōu)勢,采用專利保護的雙光路設計,完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時,由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源(thz-tds),也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2024-10-21
太赫茲近場光學顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場光學顯微鏡 -30nm光學信號空間分辨率
更新時間:2024-10-21
德國KSI  型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2024-10-21
KSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達450mm,檢測時間短,也不需要做其它設定。
更新時間:2024-10-21
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的完美結合
更新時間:2024-10-21
德國KSI  雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只換能器
更新時間:2024-10-21
韓國賽可臺式掃描電鏡4500
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2024-10-21
韓國賽可臺式掃描電鏡4500主要功能
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2024-10-21
韓國SEC掃描電子顯微鏡采購價格
sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實驗室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時間:2024-10-21
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2024-10-21
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡#2023已更新
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2024-10-21
CAMECA工業(yè)三位原子探針EIKOS
更新時間:2024-10-21
SS-60系列掃描電子顯微鏡
ss-60系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間?。环糯蟊堵?0 ~60,000 x,15nm分辨率;采用二次電子和背散電子雙重探測器;ss-60掃描電鏡具有強大軟件功能,操作簡單,易于維護;國產(chǎn)掃描電鏡,良好售后服務系統(tǒng)。
更新時間:2024-10-21
SS-150系列掃描電鏡
ss-150系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間?。环糯蟊堵?0~150,000 x ;5nm分辨率;采用二次電子和背散電子雙重探測器;通過選配eds可進行元素成份分析;ss-150系列掃描電鏡具有強大軟件功能,操作簡單,易于維護;國產(chǎn)掃描電鏡,良好售后服務系統(tǒng)。
更新時間:2024-10-21
日本JEOL 掃描電子顯微鏡JSM-IT510 InTouchScope™
掃描電子顯微鏡 (sem) 不僅是開展科研工作所必不可少的工具,對于需要品控的制造工廠也是不可或缺的。 在這些場景中,用戶需要重復執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 jsm-it510 新增的“簡單 sem”功能,用戶可將 sem 觀察所需的“手動重復操作交給它”,從而更高效、更輕松地完成 sem 觀察。
更新時間:2024-10-21
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2024-10-21
供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2024-10-21
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2024-10-21
供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2024-10-21
供應日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡,達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作,可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點: 1. 新型
更新時間:2024-10-21
供應蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學系統(tǒng),強大的自動化功能,操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能,包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2024-10-21
供應蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大,超重,超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口,可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2024-10-21
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2024-10-21
國儀量子高分辨低真空鎢燈絲掃描電鏡
sem3200是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的中盡情探索。
更新時間:2024-10-18
國儀量子高分辨率場發(fā)射掃描電鏡
國儀量子場發(fā)射掃描電鏡sem5000,可實現(xiàn)低電壓高分辨成像,磁性樣品也可適用,豐富的接口,滿足多樣的需求,精心設計的人機交互方便操作,快速上手
更新時間:2024-10-18
聚焦離子束電子束雙束顯微鏡
db500擁有自主可控的場發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒,是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術(supertunnel)、低像差無漏磁物鏡設計,低電壓高分辨率成像,保證納米分析能力?!俺杏啊彪x子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源,擁有高穩(wěn)定、高質(zhì)量的離子束流,保證納米加工能力。集成式的納米機械手、氣體注入器、電子物鏡防污染機構,擁有24個擴展口,配置全面,自主可控,擴展性強,為您打造全能納米分析和加
更新時間:2024-10-18
超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡
sem5000x是一款超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡,其分辨率達到了突破性的0.6 nm@15 kv和1.0 nm@1 kv。高分辨物鏡設計、高壓隧道技術(supertunnel)以及鏡筒工藝升,實現(xiàn)了低電壓分辨率的進一步提升。全新設計的樣品倉,擴展接口增加至16個,快速換樣倉大支持8寸晶圓(大直徑208 mm),大擴展應用范圍。高掃描模式和自動功能增強,帶來了更強的性能和更好的體驗。
更新時間:2024-10-18
韓國SEC掃描電子顯微鏡
sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實驗室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時間:2024-10-16
實用型掃描電子顯微鏡KYKY-2800
產(chǎn)品說明: kyky-2800型掃描電子顯微鏡是中國科學院在幾十年的掃描電鏡研究和生產(chǎn)基礎上,引用現(xiàn)代最新計算機及數(shù)字圖像技術, 開發(fā)出的高性能產(chǎn)品。該產(chǎn)品除具有原kyky電鏡優(yōu)良工藝和穩(wěn)定可靠特性外,新增加了各種計算機自動控制及調(diào)節(jié)功能,尤其是采用了專用圖像處理器進行圖像分析處理,使掃描電鏡與圖像分析得到完美結合。在window
更新時間:2024-10-10
電子掃描顯微鏡KYKY-EM6900
類型 電子顯微鏡 品牌 中科 型號 kyky-em6900 目鏡放大倍數(shù) n/a 物鏡放大倍數(shù) n/a 儀器放大倍數(shù) 1.5-300000x 加工定制 否
更新時間:2024-10-10
經(jīng)濟型掃描電子顯微鏡 KYKY-EM3200系列
產(chǎn)品說明: kyky-em3200系列掃描電鏡在電氣控制系統(tǒng)、計算機系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動控制功能 等諸多方面都進行了改進。主要特點是穩(wěn)定可靠、結構緊湊、操作方便、維護簡單,是一款性價比較高的經(jīng)濟型電鏡。
更新時間:2024-10-10
日立新型臺式掃描電鏡
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程,大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能,觀察結束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。此外,選配項還可實現(xiàn)更多功能??稍跇悠穫}內(nèi)加裝光學相機來拍攝照片,以往通過經(jīng)驗尋找目標位置*1,現(xiàn)在可
更新時間:2024-10-09
日立新型臺式掃描電鏡
“regulus系列“是日立高新技術的fe-sem的全新品牌,包括作為su8010的后續(xù)機型開發(fā)的 “regulus8100“ 以及su8200系列的升 “regulus8220“ “regulus8230“ “regulus8240“,共4個機型,均實現(xiàn)了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2024-10-09
日立熱場發(fā)射掃描電鏡
此次推出的su7000采用全新設計的探測器,使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。
更新時間:2024-10-09
日立大型掃描電鏡
在以納米技術和生物技術為主的產(chǎn)業(yè)域里,從物質(zhì)的微細結構到組成成分,sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大,但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品,由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制,所以觀察時需要進行切割等加工。因此,對超大樣品不施以加工處理,便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2024-10-09
日立大型掃描電鏡
對超大樣品不施以加工處理,便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2024-10-09
德國蔡司ZEISS鎢燈絲掃描電鏡@2023動態(tài)已更新《新品/推薦 》
evo系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應用型掃描電子顯微鏡。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術的物鏡設計,提供高低真空成像功能,可對各種材料表面作分析,并且具有業(yè)界先的x射線分析技術。
更新時間:2024-10-09
德國蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡@2023日熱點
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器,可快速方便地實現(xiàn)基礎分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
更新時間:2024-10-09
德國蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡@2023日頭條推薦
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器,可快速方便地實現(xiàn)基礎分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
更新時間:2024-10-09
日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡
fe-sem獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構,因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等域。
更新時間:2024-10-09
日立冷場發(fā)射掃描電鏡
fe-sem獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構,因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等域。近年來,以materials integration為代表,其應用域及用途在不斷擴展,短時間內(nèi)獲取大量數(shù)據(jù),減輕作業(yè)負荷成為市場的一大需求。
更新時間:2024-10-09
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是門為電子束敏感樣品和需大300萬倍穩(wěn)定觀察的先進半導體器件,高分辨成像所設計。
更新時間:2024-10-09

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑