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EXF-10B鍍層測厚儀電鍍層測厚儀億信豐科技

鍍層測厚儀

儀器介紹

EXF-10B是集多年的經驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

可以滿足微小測試點的需求，最小可達0.2mm

高精度移動平臺可精確定位測試點.

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

技術指標

型號：EXF-10B

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾（U）。

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析檢出限可達2ppm，最薄可測試0.005μm。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線性回收程序

工作溫度：15℃至30℃ 濕度：≤80%

電源: 交流220V±5V

外型尺寸：670mm×470mm×370mm

測量倉：520mm×370mm×105mm

重量：45kg

標準配置

精密二維移動樣品平臺。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器

計算機

彩色打印機

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。

該公司產品分類：水質分析儀/多參數(shù)水質分析儀色譜工作站液相色譜儀貴金屬分析儀鹵素測試儀合金分析儀礦石分析儀 ROHS檢測儀

PX-7超聲波測厚儀PX-7精密超聲波測厚儀系采用現(xiàn)代數(shù)字技術,能快速精確的得數(shù)讀數(shù).具有報警模式\差值模式\內部數(shù)據記錄和RS-232數(shù)據輸出功能.并可與計算機或數(shù)據獲取系統(tǒng)連接。 PX-7精密測厚儀的回波-回波模式，具有穿過漆層或涂層測量的功能。達高特公司新推出的PX-7系列精密測厚儀已經面世了。這一性能優(yōu)良的測厚儀家族是為惡劣的工業(yè)環(huán)境和高精度的測量要求而設計的，并能很好的滿足各方面應用。產品特點測量模式：回波、回波一回波(穿過漆層)和自動轉換。單點測量每秒4個讀數(shù)，或在掃描模式中每秒8個一用于獲取小厚度。單點校準差值模式：輸入合格的厚度值，儀器會顯示出與輸入值的±差值。報譬模式：輸入一個小合格厚度值。如果測量值在高／低限之外，紅色報警燈會亮，且有聲響報警。如果測量值在高／低限之內，綠燈發(fā)亮，表示測量值在正常范圍內。數(shù)據輸出：RS-232輸出可將數(shù)據送至串行打印機、計算機或其它外部裝置。質量認證：出廠時均按英國國家標準校驗。技術參數(shù) 范圍：0.15-25.4mm(可在英制，公制間切換) 分辨率：0.001mm 聲速范圍：1250-10,000m／s 工作溫度：-30℃-50℃ 機殼：擠壓鋁機殼，帶鍍鎳鋁蓋帽，具有密封墊片。電源：2節(jié)1.5V堿性電池或1.2V AA鎳鉻電池標稱工作時間：150小時，堿性電池；100小時，鎳鉻電池。電池電量不足時，顯示閃爍；當電池電量過低不能正常工作時自動關機。顯示：多功能4.5位數(shù)字LCD顯示，0.5英寸高，背光可選開/關/自動(僅用時才亮)。用英寸、英寸／微秒、毫米和米／秒顯示測量值。條形田指示讀數(shù)穩(wěn)定。鍵盤：9個觸摸鍵具有密封覆膜。能防水耐油。內部數(shù)據庫(僅Px-7DL)：自動數(shù)據記錄系統(tǒng)，1000個讀數(shù)。容量(10個文件，每個100個讀數(shù))OBST指示無讀數(shù)。配備有數(shù)據獲取軟件和電纜。探頭：單晶延遲探頭。頻率范圍：10—22MHZ快鎖式LEMO型接頭。1.2米探頭電纜。(可提供用戶特需探頭) 尺寸：63.5寬x114.3高x31.5厚mm 重量：285克

該公司產品分類：分選機光譜儀探傷儀硬度計測漏儀測厚儀粗糙度輪廓儀圓度柱儀形狀測試類無損檢測類自動化設備儀器儀表

1101濕膜測厚儀/梳規(guī)

梳式測厚儀是尺狀的，在六面都有支撐基點，每個面均有不同長度的齒。測量時，將量程范圍與漆膜估計厚度相近的那個面垂直地壓入濕膜。測量范圍：25-3000μm

minitest1100minitest涂層測厚儀

涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據處理功能；所有型號均可配所有探頭；可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；可使用一片或二片標準箔校準。

技術特征型號 1100 2100 3100 4100MINITEST 存儲的數(shù)據量應用行數(shù)（根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據數(shù)） 1 1 10 99每個應用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內數(shù)據自動統(tǒng)計計算，并可設寬容度極限值） 1 10 99可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) 1 500 500數(shù)據總量 1 10000 10000 10000MINITEST統(tǒng)計計算功能讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar √ √ √讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cp √ √ 組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar √ √ 組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √ √ 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數(shù)據 √ 分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據和統(tǒng)計值 √ √ 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 √ √ √ 其他功能設置極限值 √ √ 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 √ √ 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

√ √ 連續(xù)測量模式中顯示最小值 √ √ 可選探頭參數(shù)

所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層

該公司產品分類：非接觸式接觸式紅外測溫儀洛氏硬度計肖氏硬度計巴氏硬度計維式硬度計布氏硬度計邵氏硬度計里氏時代粗糙度儀配件粗糙度儀便攜式粗糙度儀表面粗糙度儀美泰超探北京時代友聯(lián)超探粗糙度儀配件硬度計配件時代儀器配件

SFT110X射線熒光鍍層測厚儀

Ø 通過自動定位功能提高操作性測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現(xiàn)在3秒內即可完成，大大提高樣品定位的操作性。

Ø 微區(qū)膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。

Ø 多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。

Ø 廣域觀察系統(tǒng)（選配）可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。

Ø 對應大型印刷線路板（選配）可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。

Ø 低價位與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。

該公司產品分類：尼康卡規(guī)、角度尺、水平儀步距規(guī)、量塊、測厚規(guī) 測長儀數(shù)碼工程打印機其他各種常用量具數(shù)顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

TT100/TT100a/TT110/TT120/TT130 超聲波測厚儀

功能特點：

非線形自動補償，利用計算機軟件對探頭非線性誤差進行修正，以提高測量標準度

可存儲10個測量值

2.5MHz，5MHz，7MHz探頭可選

大屏幕LCD，背光顯示，自動關機

TT100，TT100A，TT130可利用已知厚度試塊測量聲速，適合測量金屬，塑料，陶瓷，玻璃，及其他任何超聲波的良導體

TT110，TT120僅兩個按鍵，操作極其簡便，適合測量鋼材料

TT120具有高溫測量功能，被測物體溫度可達300℃

技術參數(shù)：

性能＼型號	TT100	TT100a	TT110	TT120	TT130
測量范圍	0.75～300.00㎜（鋼，由探頭決定）
顯示分辨率	0.1㎜				0.01㎜
背光顯示	無	有	無
聲速范圍	1000～9999m/s		5900m/s		1000～9999m/s
工件表面溫度	.-10～+60℃			.-10～+300℃	.-10～+60℃
顯示	4位LCD
測量精度	±（1％H+0.1）㎜ H為被測物實際厚度
管材測量下限	⊙20㎜×3.0㎜（鋼，由探頭決定）
探頭直徑	⊙6㎜（選配），⊙10㎜（標配），⊙12㎜（選配）
校準	4.0㎜（鋼）
電壓指示	低電壓提示
電源	AA型堿性1.5V電池（2節(jié)）
操作時間	連續(xù)操作可達250小時
外形尺寸	126㎜×68㎜×23㎜
重量	170g
標準配置	主機，5MHz探頭，4.0㎜鋼校準塊，AA型堿性電池，耦合劑
可選附件	2.5MHz探頭（3～300㎜），7MHz探頭（0.75～60㎜）

該公司產品分類：超聲波流量計電磁流量計測溫儀硬度計邵氏硬度計布氏硬度計洛氏硬度計里氏硬度計硬度計

超聲波探傷儀、測厚儀、硬度計

EPOCH 4型數(shù)字超聲波探傷儀

EPOCH XT超聲波探傷儀

EPOCH LT超聲波探傷儀

EPOCH 4PLUS 超聲波探傷儀

EPOCH 4B 經濟型超聲探傷儀

MG2 MG2-XT MG2-DL超聲波測厚儀

26MG 26MG－XT 26XTDL系列超聲波測厚儀

Model 25超聲波測厚儀

25HP PLUS超聲波測厚儀

25DL PLUS超聲波測厚儀

37DL PLUS 超聲波腐蝕厚度測量儀

QuaNix4200、QuaNix4500、QuaNix1200、QuaNix1500、QuaNix7500、QuaNix8500、QuaNixkeyless涂層測厚儀

HARTIP1000 、HARTIP1500、 HARTIP3000硬度計

TDS-100超聲波流量計

TT220涂層測厚儀

·	TT210涂層測厚儀
·	TT220涂層測厚儀
·	TT230涂層測厚儀
·	TT240涂層測厚儀
·	TT260涂層測厚儀

TT220涂層測厚儀

產品說明：

TT220采用了磁性測厚法，是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量�？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。主要功能　　可進行零點校準及二點校準。　　可對測頭進行基本校準�！　≡O有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數(shù)（NO）、標準偏差（S.DEV）�！　】纱尜A和統(tǒng)計計算15個測量值�！　【哂袃煞N測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）�！　【哂凶詣雨P機功能。　　刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內的所有數(shù)據，以便進行新的測量。　　操作過程有蜂鳴聲提示�！　∮星穳褐甘竟δ�。　　有錯誤提示功能。主要技術指標　　測量原理：磁性法　　測量范圍:1～1250μm　　測量精度：±（3%H+1）μm（零點校準）　　　　　　　±[(1～3)%H+1] μm（二點校準）

該公司產品分類：錨紋儀紅外測溫儀超聲波硬度計粗糙度儀布氏硬度計洛氏硬度計里氏硬度計涂層測厚儀超聲波測厚儀

EX-3000非接觸熒光涂層測厚儀

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儀器特點：搭載MS-WINDOWS系統(tǒng)（的操作性與高精度測定）與IBM PC 相容個人電腦使用與IBM PC相容個人電腦，采用MS-WINDOWS軟體，使用時多彩多姿。采用二種濾波器用用數(shù)位式濾波器外另有機械式濾波器（兩種濾波器），在測定時，若是最適當?shù)臈l件下，經�？傻玫降木�。準值儀5種孔徑內藏式最小的準值儀孔徑僅0.1 mm，可測定極微小的部品。標準：0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另備有2種特別規(guī)格可供選購。 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5 0.05＊0.5,0.1,0.2,0.3,0.5自動測定測量臺利用滑鼠來調整測量位置，非常敏捷快速�；蚴菧y量位置已完成登陸時，可連續(xù)自動測定，利用座標補正、連結頻道，來應付各種測量軌跡。亦可用自動測定來作標準片校正。的顯示機能測定部顯示盡像的表示 X線照射部可由WINDOWS畫面上取得照射部的表示。從準儀照射測定物的位置，可由倍率率更機能來實現(xiàn)盡面上測出物放大。在膜厚測定中的能譜表示由多頻分析器可快速處理能譜分析�？蓤�(zhí)行測定物的能譜分析表示，操作簡單。提長資料處理的速度充實測量報告的作成機能采用MS-WINDOW軟件，測定畫的擷取，非常簡便，可充襯測量報告的制作機能�？赏瑫r間隔處理多項工作，機器在測量中亦可處理其他工作：包括如測量報告的制作。測定物膜厚附著分布表示以三次元圖案來表示測定物膜厚附著狀態(tài)的分布，作判定時一目了然。獲得安心的性。自己診斷機能及X線管保食機能自己診斷機能，迅速的對策來排除機器的因擾。附有X線管的使用時間及耐久時間表示機能，可加強保養(yǎng)的安全性。各機型規(guī)格參數(shù)：

機型			手動測量臺	自動測量臺
測量主體	測量臺尺寸（mm）		170＊110	240＊220
	移動量	X（mm）	70	200
		Y(mm)	70	200
		Z(mm)	50（最大150）	50
	測定物最大高度（mm）		50（option 150）	50
	尺寸（mm）		602(W)＊463(D)＊732(H)
	重量（kg）		55	61
	樣品最大何重（kg）		3	1
電腦	尺寸（mm）		本體182（W）＊383（D）/顯示幕412（W）＊415（D）＊432（H）
	電腦重量（kg）		本體9/顯示幕16
印表機	重量（kg）		5．2
電源			AC100V±10V（option AC115V、AC230

儀器詳細介紹：

參. 。

	1. X線源	油浸式1.2mA小型微小焦點X線管. 50kV管電壓，可變管電壓。
	2. 照射方式	由上而下垂直照射方式。
	3. 檢出器	比例計數(shù)管。
	4. 濾波器	採用 Co 和 Ni 雙濾波器及數(shù)位式濾波器，可單一或同時使用。
	5. 準直儀	Collimator 採用五種孔徑一體成型式，可自動切換使用。0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0 ψ㎜.(選購) 0.05 ×0.5, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5 ψ㎜.(選購) 0.05, 0.1, 0.2, 0.3, 0.5 ψ㎜.
	6. 樣品觀測系統(tǒng)	彩色CCD及高畫質顯示幕。
	7. 譜分析器	使用256高頻分析器，光譜自動分析，在執(zhí)行測量及運算時，非�？焖�。
電腦操作部:	8. 電腦系統(tǒng)(※僅供參考)	IBM 相容中文個人電腦. CPU：Intel Celeron 1GHz. RAM：128 MB.Floppy Disk：3.5 ×1， 40倍速 CD-ROM ×1.Hard Disk：40 GB.17" 高畫質顯示幕.EPSON彩色噴墨式印表機。
電腦操作部:	9. 本機型(COSMOS-1X系列)之操作系統(tǒng)採中文視窗(Windows98)對話式操作，非常簡便。
特性說明:	10. 測量項目	單層膜厚測定. 2層膜厚測定. 3層膜厚測定. 無電解鎳膜厚測定. 合金膜厚成份比同時測定. 元素的光譜峰值測定分析.
	11. 測量材質	原子序22(Ti) ~ 82(Pb)為激發(fā)法測量。原子序22以下為吸收法測量。
	12. 測量範圍	原子序22 ~ 24 ，約 0.2 ~ 20 um. 原子序25 ~ 40 ，約 0.1 ~ 30 um. 原子序41 ~ 51 ，約 0.2 ~ 70 um. 原子序52 ~ 82 ，約 0.05~ 10 um.
	13. 測量機能	同一點重複測定機能輸出形式設定.能譜測定.
	14. 測量條件或膜厚規(guī)格可以保存	當要測量相同的製品時，若測量條件已儲存，可以馬上進行測量。最大檢量線檔案數(shù)：可登錄儲存100組檔案。最大測量檔案數(shù) ：可登錄儲存300組檔案。
	15. 檔案記錄	每一個批號可儲存無限個測量資料.(因所使用的電腦之容量大小而定)每一個測量檔案可輸入及儲存公司名稱.每個批號可單獨執(zhí)行統(tǒng)計處理.每個測量檔案可輸入不同的檢量線(校正曲線).
	16. 資料處理	統(tǒng)計值表示：平均值、標準偏差、最大值、最小值、上下限值範圍、Cp、Cpk。X-R 管制圖.柱狀圖：有自動設定及自己任意設定二種方式�？刹噬杏∮^物顯示幕上所觀測之圖像。
	17. 底材補正	當樣品與標準片的底材不同時，可作底材補正。
	18. 觀物顯示幕	十字刻度線的高解析度彩色觀物顯示幕
	安全裝置.	19. 本機俱有自動安全斷電系統(tǒng)功能.
	安全裝置.	20. 由鎖匙開關來控制X 線輸出，以防止外人任意操作.
其他機能.	21. 密碼辨識功能
	22. 裝置維護調整
	23. 測量部主機	尺寸：362(W) ×425(D) ×486(H) ㎜.重量：約 44.2 Kg.
	24. 操作部：(※僅供參考)	電腦尺寸：180(W) ×420(D) ×360(H) ㎜.重量：約 8.8 Kg.顯示幕尺寸：360(W) ×420(D) ×370(H) ㎜.重量：約16.5 Kg.印表機尺寸：500(W) ×250(D) ×300(H) ㎜.重量：約 4.3 Kg.
X-Y-Z軸可移動式測量臺	25. 測量臺尺寸及移動量.	測量臺尺寸 170 (W) ×100 (D) ㎜移動量(X-Y-Z軸) 70 ×70 ×50 ㎜.
X-Y-Z軸可移動式測量臺	26. 測量樣品限制	樣品限制高度： 45㎜樣品限制重量： 3 Kg.
使用電源.	27. 電壓	AC100V ±10V ； 50/60Hz(選購) AC110V， AC220V.
使用電源.	28. 容量	700V

該公司產品分類：近紅外光譜(NIR) 土壤酸度計/土壤pH計激光拉曼光譜(RAMAN) 氫分析儀其它光學測量儀其它環(huán)境監(jiān)測其它光譜儀照度計紫外、紫外分光光度計、紫外可見分光光度計、UV 其它水質分析其它流變儀/粘度計在線pH計/酸度計恒溫器便攜式分光光度計色度儀水質重金屬檢測儀/監(jiān)測儀離子檢測儀紅外顯微鏡均質器、均質機、乳化機純水器、超純水器、純水機、超純水機

CMI900/950測厚儀/鍍層測厚儀

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供、快速的分析�；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數(shù)設定�？赏瑫r測定最多5層、15種元素。數(shù)據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

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EXF-10B鍍層測厚儀電鍍層測厚儀億信豐科技

PX-7美國DAKOTA進口超聲波測厚儀PX-7

1101濕膜測厚儀/梳規(guī)

minitest1100minitest涂層測厚儀

SFT110X射線熒光鍍層測厚儀

TT100/TT100a/TT110/TT120/TT130 超聲波測厚儀

超聲波探傷儀、測厚儀、硬度計

TT220涂層測厚儀

EX-3000非接觸熒光涂層測厚儀

CMI900/950測厚儀/鍍層測厚儀

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