ka imaging公司出品的便攜式雙能量x射線平板探測(cè)器reveal 35c,為無(wú)損檢測(cè)(ndt)應(yīng)用而設(shè)計(jì)。此款探測(cè)器為在充滿挑戰(zhàn)的環(huán)境中實(shí)現(xiàn)耐用性和可靠性而設(shè)計(jì),可在現(xiàn)場(chǎng)提供所未有的圖像。它能承受?chē)?yán)格的工業(yè)檢查,確保在各種苛刻的條件下實(shí)現(xiàn)無(wú)縫功能。
ka imaging公司推出一款先進(jìn)且堅(jiān)固的便攜式三能量x射線平板探測(cè)器reveal r 35c,為無(wú)損檢測(cè)(ndt)應(yīng)用而設(shè)計(jì)。此款堅(jiān)固耐用的探測(cè)器為在充滿挑戰(zhàn)的環(huán)境中實(shí)現(xiàn)耐用性和可靠性而設(shè)計(jì),可在現(xiàn)場(chǎng)提供所未有的圖像。它能承受?chē)?yán)格的工業(yè)檢查,確保在各種苛刻的條件下實(shí)現(xiàn)無(wú)縫功能。
ka imaging推出了其有的無(wú)定形硒(a-se)brillianse™x射線探測(cè)器,用于高亮度成像。這款混合a-se/cmos的探測(cè)器采用具有高固有空間分辨率的a-se光導(dǎo)體,可直接將x射線光子轉(zhuǎn)換為電荷。然后,低噪聲cmos有源像素傳感器(aps)讀取電子信號(hào)。無(wú)需先將x射線光子轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光(這在間接閃爍體方法中是必需的),因此不需要減薄轉(zhuǎn)換層以減少光學(xué)散射。