spm600 系列半導體參數(shù)分析儀是一款專用于半導體材料光電測試的系統(tǒng)。其功能全面,提供多種重要參數(shù)測試。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描,光電流掃描以及光響應速率測試。40μm 探測光斑,實現(xiàn)百微米級探測器的絕對光譜響應度測量。超高穩(wěn)定性光源支持長時間的連續(xù)測試,豐富的光源選擇以及多層光學光路設計可擴展多路光源,例如超連續(xù)白光激光器,皮秒脈沖激光器,半導體激光器,鹵素燈,氙燈等,滿足不同探測器測試功能的
更新時間:2024-10-18