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晶體管特性圖示儀產(chǎn)品及廠家

HYDAC備件 上海祥樹 優(yōu)勢報(bào)價(jià)
上海祥樹，只做歐洲原裝進(jìn)口。1流的報(bào)價(jià)速度+優(yōu)惠的價(jià)格+100%原裝進(jìn)口）我司業(yè)供應(yīng)歐洲工控產(chǎn)品、儀器儀表及備品備件，歡迎來電咨詢。
更新時(shí)間:2024-12-19
FLOW-CELL流量計(jì)
南京頌儒儀器設(shè)備有限公司大量供應(yīng) 日本flow-cell流量計(jì)nflt-rflt-h型 fly-h型 flw-m型 flg型flt-hab型 nflt-r型 nfly-rc型 nfly-r型fdt-n型 fdy-n型 fdg-nc型dnt-s型 dny-s型 dng-s型 dig-s型
更新時(shí)間:2024-12-18
雙性源測數(shù)字源表
普賽斯雙性源測數(shù)字源表自主研發(fā)生產(chǎn)，對標(biāo)美國2400，b2901；可實(shí)現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測量同步進(jìn)行，提高測試效率；支持四象限工作，測量范圍廣，電壓高300v，電流低至100pa；支持usb存儲
更新時(shí)間:2024-12-17
源表搭建四探針法測量半導(dǎo)體電阻率實(shí)驗(yàn)
源表搭建四探針法測量半導(dǎo)體電阻率實(shí)驗(yàn)找普賽斯儀表，武漢普賽斯儀表自主研發(fā)的高精度源表（smu），可以在輸出電流時(shí)測試電壓，也可以在輸出電壓時(shí)測試電流。輸出電流范圍從皮安到安培可控，測量電壓分辨率 高達(dá)微伏。支持四線開爾文模式，適用于四探針測試，可以簡化測試連接，得到z確的測試結(jié)果。
更新時(shí)間:2024-12-17
數(shù)字源表搭建半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管IV特性測試實(shí)驗(yàn)
數(shù)字源表搭建半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管iv特性測試實(shí)驗(yàn)的主要目的是通過實(shí)驗(yàn)幫助工程師提取半導(dǎo)體器件的基本 i-v 特性參數(shù)，并在整個工藝流程結(jié)束后評估器件的優(yōu)劣。在半導(dǎo)體制程的多個階段都有應(yīng)用，如金屬互連，鍍層階段，芯片封裝后的測試等。
更新時(shí)間:2024-12-17
0-10A脈沖式數(shù)字源表
p系列0-10a脈沖式數(shù)字源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，z大脈沖輸出電流達(dá)10a，z大輸出電壓達(dá)300v，支持四象限工作
更新時(shí)間:2024-12-17
多功能脈沖源表脈沖IV測試儀
脈沖iv測試儀是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，z大脈沖輸出電流達(dá)10a，z大輸出電壓達(dá)300v，支持四象限工作
更新時(shí)間:2024-12-17
數(shù)字源表應(yīng)用之氣敏電阻iv測試
阻值測試本質(zhì)上是fimv（加電流測電壓）或fvmi（加電壓測電流），獲取iv曲線后計(jì)算阻值。數(shù)字源表應(yīng)用之氣敏電阻iv測試的更多信息找普賽斯儀表員為您解答
更新時(shí)間:2024-12-17
半導(dǎo)體分立器件測試儀
武漢普賽斯半導(dǎo)體分立器件測試儀之?dāng)?shù)字源表，特別適用于精密電壓源和電流源驅(qū)動，且同時(shí)進(jìn)行電流與電壓測量的測試應(yīng)用。所有源表皆提供精密的電壓和電流源測量能力。每個源表均由一個高穩(wěn)定的直流源和一個真儀器的5位半多功能表組成。該電源特性包括：低噪聲，高精度和回讀功能。萬用表功能包括高重復(fù)性和低噪音。其結(jié)果
更新時(shí)間:2024-12-17
半導(dǎo)體I-V特性曲線分析儀
半導(dǎo)體i-v特性曲線分析儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，廠家直銷、服務(wù)完善！普賽斯s型源表國產(chǎn)自主研發(fā)，單通道，不支持脈沖輸出，觸摸屏操作，支持多種通訊方式，rs-232、gpib及以太網(wǎng)；z大輸出電壓達(dá)300v，小電流分辨率10pa，支持usb存儲
更新時(shí)間:2024-12-17
半導(dǎo)體電性能測試儀
半導(dǎo)體電性能測試儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，國產(chǎn)自主研發(fā)，廠家直銷！性價(jià)比高，測試范圍更廣，輸出電壓高達(dá)300v，支持usb存儲，一鍵導(dǎo)出報(bào)告，符合大環(huán)境下國內(nèi)技術(shù)自給的需求，可及時(shí)與客戶溝通，為客戶提供高性價(jià)比系統(tǒng)解決方案，及時(shí)指導(dǎo)客戶編程，加速測試系統(tǒng)開發(fā)
更新時(shí)間:2024-12-17
國產(chǎn)數(shù)字源表分辨率1pA
p系列分辨率1pa國產(chǎn)數(shù)字源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，z大脈沖輸出電流達(dá)10a，z大輸出電壓達(dá)300v，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。p系列源表適用于各行各業(yè)使用者，特別適合現(xiàn)代半導(dǎo)體、納米器件和材料、有機(jī)半導(dǎo)體、印刷電子技術(shù)以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。
更新時(shí)間:2024-12-17
激光二管LIV特性測試數(shù)字源表
激光二管liv特性測試數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表，普賽斯開發(fā)的liv 測試系統(tǒng)采用 國產(chǎn) s 型數(shù)字源表 為核心，結(jié)合測試軟件以及第三方設(shè)備積分球探測器完成 ld 的 liv 測試。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、精度高、k靠性好、速度快，提高生產(chǎn)效率的同時(shí)也增加了測試精度和k靠性，并且降低了測試成本。
更新時(shí)間:2024-12-17
太陽能電池伏安特性測試SMU源表
普賽斯儀表太陽能電池放電掃描曲線儀可對每個電池單元獨(dú)立或順序iv特性測試，顯示iv特性曲線和isc, voc, pmax, ff, η和電池表面溫度等參數(shù)，每個電池單元測試結(jié)果可以保存在一個excel文件中，可進(jìn)行對電池表面均勻性分布進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
更新時(shí)間:2024-12-17
數(shù)字源表IV掃描光伏電池片
數(shù)字源表iv掃描光伏電池板認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，普賽斯的測試方案通過自主研發(fā)的軟件可對每個電池單元獨(dú)立或順序iv特性測試，顯示iv特性曲線和isc, voc, pmax, ff, η和電池表面溫度等參數(shù)，每個電池單元測試結(jié)果可以保存在一個excel文件中，可進(jìn)行對電池表面均勻性分布進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
更新時(shí)間:2024-12-17
數(shù)字源表搭建集成電路實(shí)驗(yàn)平臺
數(shù)字源表搭建集成電路實(shí)驗(yàn)平臺的目的：通過實(shí)驗(yàn)動手操作，加深對半導(dǎo)體物理理論知識的理解，掌握半導(dǎo)體材料和不同器件性能的表征方法及基本實(shí)驗(yàn)技能，培養(yǎng)分析問題和解決問題的能力。
更新時(shí)間:2024-12-17
半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)CV+IV曲線掃描儀
spa-6100半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)cv+iv曲線掃描儀可以幫助用戶根據(jù)測試需要，靈活選配測量單元進(jìn)行升。產(chǎn)品支持z高1200v電壓、100a大電流、1pa小電流分辨率的測量，同時(shí)檢測10khz至1mhz范圍內(nèi)的多頻ac電容測量
更新時(shí)間:2024-12-17
微弱電流電壓數(shù)字源表
微弱電流電壓數(shù)字源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載的功能于一身，廣泛用于各類精密器件的測量。支持四象限工作，可作為源或負(fù)載
更新時(shí)間:2024-12-17
對標(biāo)2400國產(chǎn)數(shù)字源表S300型
武漢普賽斯對標(biāo)2400國產(chǎn)數(shù)字源表s300型，特別適用于精密電壓源和電流源驅(qū)動，且同時(shí)進(jìn)行電流與電壓測量的測試應(yīng)用。所有源表皆提供精密的電壓和電流源測量能力。每個源表均由一個高穩(wěn)定的直流源和一個真儀器的5位半多功能表組成。
更新時(shí)間:2024-12-17
半導(dǎo)體管特性圖示儀 圖示儀 半導(dǎo)體管圖示儀
dt307-qt2/centerqt2半導(dǎo)體管特性圖示儀可測量二極管、三極管的低頻直流參數(shù)，大集電極電流超過50a，能滿足500va以下器件的測試。
更新時(shí)間:2024-12-13
防爆撓性管
全不銹鋼制內(nèi)管波紋管外徑Ø20mm*1.5或6分兩種，長度1米。一般用于活動點(diǎn)，當(dāng)使用綜合電纜時(shí)，每活動點(diǎn)至少用2-3根（可定做1.5米和2米）
更新時(shí)間:2024-12-13
轉(zhuǎn)動慣量演示儀
本儀器用于演示剛體的滾動。四個圓柱質(zhì)量相同，但上部兩個圓柱的質(zhì)量分布集中在四周，下部兩個圓柱的質(zhì)量分布相對均勻。
更新時(shí)間:2024-12-13
CRT讀出圖示儀 CRT讀出半導(dǎo)體管特性圖示儀
dt307-xj4822 crt讀出圖示儀，外觀新穎，技術(shù)先進(jìn)，操作方便，能對各類二極管、三極管、場效應(yīng)管等靜態(tài)參數(shù)測試。
更新時(shí)間:2024-12-13
晶閘管伏安特性測試儀
本儀器是晶閘管斷態(tài)電壓及斷態(tài)電流、反向電壓及反向電流(irsm、irrm)的測試設(shè)備。適用于各種晶閘管、整流管及晶閘管、整流管模塊的參數(shù)測試。本儀器設(shè)計(jì)先進(jìn)，操作簡便，采用數(shù)字表顯示測試結(jié)果，具有精度高，重復(fù)性好，對被測器件自動保護(hù)等特點(diǎn)。其測試原理符合gb4024-83標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，是電力半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠和使用單位理想的檢測設(shè)備。
更新時(shí)間:2024-12-13
半導(dǎo)體管晶體管特性測試儀
半導(dǎo)體管晶體管特性測試儀采用示波管顯示半導(dǎo)體器件的各種特性曲線。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電極掃描功能，可以對被測半導(dǎo)體器件的特性進(jìn)行對比分析，便于晶體管的配對。
更新時(shí)間:2024-12-13
半導(dǎo)體管特性圖示儀
dt307-bw4810/4810a型半導(dǎo)體管特性圖示儀采用示波管顯示半導(dǎo)體器件的各種特性曲線，并測量其靜態(tài)參數(shù)。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電掃描電路，可以對被測半導(dǎo)體器件的特司長進(jìn)行對比分析，便于對管或配件配對。
更新時(shí)間:2024-12-13
晶體管直流參數(shù)測試儀系統(tǒng)
陜西天士立科技有限公司/std2000/晶體管直流參數(shù)測試儀系統(tǒng)可以測試si,sic,gan & igbt、mosfet、diode、bjt、scr等電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)和iv曲線（如擊穿電壓v(br)ces/v(br)dss、漏電流ices/lges/igss/ldss、閾值電壓/vge(th)、開啟電壓/vce(on)、跨導(dǎo)/gfe/gfs、壓降/vf、導(dǎo)通內(nèi)阻rds(on)）。
更新時(shí)間:2024-11-05
晶體管圖示儀&曲線追蹤掃描儀
陜西天士立科技有限公司/std2000/晶體管圖示儀&曲線追蹤掃描儀可以測試si,sic,gan & igbt、mosfet、diode、bjt、scr等電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)和iv曲線（如擊穿電壓v(br)ces/v(br)dss、漏電流ices/lges/igss/ldss、閾值電壓/vge(th)、開啟電壓/vce(on)、跨導(dǎo)/gfe/gfs、壓降/vf、導(dǎo)通內(nèi)阻rds(on)）
更新時(shí)間:2024-11-05
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)（如擊穿電壓v(br)ces/v(br)dss、漏電流ices/lges/igss/ldss、閾值電壓/vge(th)、開啟電壓/vce(on)、跨導(dǎo)/gfe/gfs、壓降/vf、導(dǎo)通內(nèi)阻rds(on)）。測試種類覆蓋 7 大類別26分類，包括“二管類”“三管類（如bjt、mosfet、igbt）”“保護(hù)類器件”“穩(wěn)壓集成類”
更新時(shí)間:2024-11-05
晶體管圖示儀
sti5000c/sti5300c晶體管圖示儀；進(jìn)口大功率高精度晶體管圖示儀，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體分立器件封裝測試，制造企業(yè)的半導(dǎo)體器件分立來料檢驗(yàn)，半導(dǎo)體失效分析實(shí)驗(yàn)，高等院校和研究所教學(xué)科研等。
更新時(shí)間:2024-10-30
半導(dǎo)體測試儀
itc55100 半導(dǎo)體測試儀；itc55100c 型號是新一代的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)系列 itc55100 測試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個非常強(qiáng)大的微控制器設(shè)計(jì)的，它的時(shí)序分辨率為40ns，比代型號快20倍。
更新時(shí)間:2024-10-30
晶體管圖示儀
itc75100 晶體管圖示儀；itc75100 是一種增強(qiáng)的未夾式電感負(fù)載 （uil） 測試系統(tǒng)，它基于 itc 行業(yè)先的 itc55 系列測試儀的成功，增加了額外的測試和測量能力。
更新時(shí)間:2024-10-30
晶體管圖示儀
泰克370b晶體管圖示儀；大電流-控制設(shè)置為200 ma時(shí)，step amplitude設(shè)置為20x，step amplitude設(shè)置為10x。
更新時(shí)間:2024-10-30
晶體管圖示儀
泰克371a晶體管圖示儀；交互式可編程控制；自動光標(biāo)測量；掃描測量模式
更新時(shí)間:2024-10-30
晶體管圖示儀的行業(yè)應(yīng)用@技術(shù)新聞
sti5000c/sti5300c晶體管圖示儀；進(jìn)口大功率高精度晶體管圖示儀，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體分立器件封裝測試，制造企業(yè)的半導(dǎo)體器件分立來料檢驗(yàn)，半導(dǎo)體失效分析實(shí)驗(yàn)，高等院校和研究所教學(xué)科研等。
更新時(shí)間:2024-10-30
晶體管圖示儀的工作原理#技術(shù)新聞
itc75100 晶體管圖示儀；itc75100 是一種增強(qiáng)的未夾式電感負(fù)載 （uil） 測試系統(tǒng)，它基于 itc 行業(yè)先的 itc55 系列測試儀的成功，增加了額外的測試和測量能力。
更新時(shí)間:2024-10-30
晶體管圖示儀的解決方案@技術(shù)新聞
泰克370b晶體管圖示儀；大電流-控制設(shè)置為200 ma時(shí)，step amplitude設(shè)置為20x，step amplitude設(shè)置為10x。
更新時(shí)間:2024-10-30
晶體管圖示儀的技術(shù)特點(diǎn)#技術(shù)新聞
泰克371a晶體管圖示儀；交互式可編程控制；自動光標(biāo)測量；掃描測量模式
更新時(shí)間:2024-10-30
晶體管特性圖示儀 ，半導(dǎo)體特性圖示儀 ，小體積晶體管特性圖示儀
1.該儀器在標(biāo)準(zhǔn)的半導(dǎo)體特性圖示儀基礎(chǔ)上進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)，具有體積小，可靠性高，使用簡便的特點(diǎn)。 2.具有交替測量顯示功能，可同時(shí)顯示二極管的正、反相特性。 3.最高集電極掃描電壓可達(dá)5kv，最大電流可達(dá)2a，基本滿足了家用電器中各類半導(dǎo)體器件的測試需要。 4.適用三極管、二極管、場效應(yīng)管、可控硅、穩(wěn)壓管和三端穩(wěn)壓器等參數(shù)設(shè)定。
更新時(shí)間:2024-10-18
DY294 晶體管直流參數(shù)測試儀
dy294 晶體管直流參數(shù)測試儀     功能及技術(shù)指標(biāo) 功能 量程顯示范圍分辨力工作條件擊穿電壓v（br）1000v0～01999a1v擊
更新時(shí)間:2024-06-15
HUSTEC-580首件檢測儀系統(tǒng) 華科智源
hustec-580首件檢測儀系統(tǒng)首件測試 1. 新建待測首件測試報(bào)表 2. 將待測首件放入檢測儀內(nèi)，對首件圖片進(jìn)行拍照，并自動識別空焊元件 3. 開始測試阻容感元件并自動判定pass,fail(有聲光報(bào)警) 4. 對ic、三極管、二極管等不可測量元件，可調(diào)出元件庫進(jìn)行型號規(guī)格方向?qū)Ρ?
更新時(shí)間:2024-02-23
IGBT功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀 華科智源
功率半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)適合各大研究所做元器件檢驗(yàn)以及在線開發(fā)器件做生產(chǎn)測試。系統(tǒng)可擴(kuò)展性強(qiáng)，通過選件可以提高電壓、電流的測試能力和增加測試品種范圍。自動快速測試可以滿足用戶大生產(chǎn)需要，故障率低也保證了用戶的生產(chǎn)效率。
更新時(shí)間:2024-02-23
半導(dǎo)體分立器件測試儀 華科智源
半導(dǎo)體分立器件測試儀升級擴(kuò)展性強(qiáng)，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍。支持電壓電流階梯升級至2000v,1250a;采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標(biāo)規(guī)定的300us.
更新時(shí)間:2024-02-23
IGBT功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀 華科智源
igbt功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀主機(jī)可執(zhí)行非破壞性的瞬態(tài)測量測試，包括對半導(dǎo)體器件絕緣柵雙極晶體管（igbt），功率mosfet，二極管，雙極型器件的測試頭。主機(jī)包括所有測試設(shè)備和必要的軟件分析，可執(zhí)行電阻和電感的開關(guān)時(shí)間，開關(guān)損耗，柵極電荷，trr /的qrr和其他瞬態(tài)測試。
更新時(shí)間:2024-02-23
半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng) 華科智源
半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試插座，自動補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證各種情況下測試結(jié)果的準(zhǔn)確可靠。
更新時(shí)間:2024-02-23
動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) 華科智源
動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)該套測試設(shè)備主要可測試以下參數(shù)：適用于電流不超過1500a、電壓不超過3500v的igbt開關(guān)時(shí)間的測試。設(shè)備的相關(guān)電壓、電流等參數(shù)可根據(jù)客戶要求定制。
更新時(shí)間:2024-02-23
雪崩能量測試儀廠家 華科智源
雪崩能量測試儀廠家itc55100雪崩能量測試儀是原成功產(chǎn)品itc5510的升級版本，它能執(zhí)行itc5510系列的所有測試，同時(shí)增加了許多功能，如提高測試精度，測試結(jié)果的收集，查看測試結(jié)果，連接多個被測品。itc55100可以用來對功率mosfet和igbt的耐用性測試。 它還能測試單，雙二極管，使用itc55 rsf輸出選擇器盒還可以測量igbt的正向和反向偏置。
更新時(shí)間:2024-02-23
功率循環(huán)測試儀系統(tǒng) 華科智源
功率循環(huán)測試儀系統(tǒng)該系統(tǒng)是一套動態(tài)綜合測試系統(tǒng)、測試參數(shù)多、精度高、 具有過流、過熱、水壓不足等保護(hù)功能。具有連續(xù)工作的特點(diǎn)，測試程序由計(jì)算機(jī)控制，程序設(shè)定完成后可自動測試， 系統(tǒng)采用內(nèi)控和外控兩種方式。便于工作人員操作。
更新時(shí)間:2024-02-23
臺式桌面型SMT首件檢測儀系統(tǒng) 華科智源
臺式桌面型smt首件檢測儀系統(tǒng)將bom，坐標(biāo)及圖紙進(jìn)行完美核對，實(shí)時(shí)顯示檢測情況，避免漏檢，可方便根據(jù)誤差范圍 對元件值合格值自動判定，對多貼，錯料，極性和封裝進(jìn)行方便檢查；傳統(tǒng)方式完全依靠人員把關(guān)，容 易出錯。
更新時(shí)間:2024-02-23
IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀
hustec-1600a-mt是一款大功率器件參數(shù)測試儀，可用于igbt單管及模塊，sic器件，mos管，二極管等功率器件的靜態(tài)參數(shù)測試。
更新時(shí)間:2024-02-23

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