MC-2000A型涂層測(cè)厚儀是新技術(shù)的結(jié)晶，它采用單片機(jī)技術(shù)，精度、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)，其性能達(dá)到當(dāng)代際同類儀器的先進(jìn)水平。

MC-2000A型涂層測(cè)厚儀的應(yīng)用范圍：
   采用磁性測(cè)厚法，可以方便無損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

MC-2000A型涂層測(cè)厚儀的工作原理：
   采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。

MC-2000A型涂層測(cè)厚儀的技術(shù)參數(shù)：
1、測(cè)量范圍：0~1200um
2、測(cè)量誤差：<3%±1um
3、小示值：1um
4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能：
(1)測(cè)量：單探頭全量程測(cè)厚
(2)存儲(chǔ)、刪除： 可存入600個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)，可以刪除測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。
(3)讀： 讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)
(4)統(tǒng)計(jì)： 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值大值小值
(5)校準(zhǔn)： 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)
(6)電量： 具有欠壓顯示功能
(7)蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示
(8)打�。嚎纱蛴�測(cè)量值，選配微型打印機(jī)
(9)關(guān)機(jī)：具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方式
6、電源：兩節(jié)1.5v電池
7、功耗：大功耗100mw
8、外形尺寸： 126mm*51mm*27mm
9、重量：160g（含電池）
10、使用環(huán)境溫度：0℃~+40℃ 相對(duì)濕度：不大于90%
11、基體小厚度： 0.5mm
12、基體小平面的直徑：7mm
13、小曲率半徑： 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠電壓指示： 右上角顯示＂＂
*臨界厚度�。汗ぜ�鐵基厚度大于1mm時(shí)，其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。

MC-2000A型涂層測(cè)厚儀的開機(jī)前準(zhǔn)備：
   根據(jù)電池倉蓋指示的方向打開電池倉，然后按照機(jī)殼后面的正負(fù)極指示裝入兩節(jié)1.5 V電池，壓好電池倉蓋。

MC-2000A型涂層測(cè)厚儀的按鍵名稱：
A、"ON/OFF"鍵：為復(fù)合鍵。在關(guān)機(jī)狀態(tài)時(shí)，為開機(jī)鍵；在開機(jī)狀態(tài)時(shí)，為關(guān)機(jī)鍵。儀器在自動(dòng)關(guān)機(jī)后應(yīng)按此鍵開機(jī)。
B、"MENU"鍵：為菜單鍵。
C、"▲"、"▼"鍵：調(diào)整鍵，"▲"為增加鍵，"▼"為減少鍵。
D、"CAL"鍵：具有校準(zhǔn)/清除功能。
E、"ENTER"鍵：用來確認(rèn)某功能狀態(tài)。

MC-2000A型涂層測(cè)厚儀的使用方法：
1、開機(jī)：先取開探頭線插在儀器上，（插拔探頭時(shí)，請(qǐng)抓住探頭線上的接插件部位插拔，不要直接抓住探頭線，以免損壞探頭。）然后按動(dòng)“ON/OFF”鍵（探頭與鐵基或磁場(chǎng)的距離保持10cm以上)開機(jī)聽到蜂鳴聲后儀器進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，可以直接進(jìn)行測(cè)量。如果測(cè)量數(shù)據(jù)偏差較大，可以進(jìn)行校準(zhǔn)后再測(cè)量。
測(cè)量時(shí)要注意測(cè)量指示,箭頭消失后才能再次測(cè)量，如右圖
    
2、校準(zhǔn)：本儀器分為系統(tǒng)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)和鐵基校準(zhǔn)三種。在般情況下只需進(jìn)行鐵基校準(zhǔn)即可進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。當(dāng)儀器鐵基與被測(cè)件鐵基的磁性和表面粗糙度差別較大時(shí)，可以進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)以保證測(cè)量精確度。
(1) 鐵基校準(zhǔn)（零點(diǎn)校準(zhǔn)）
儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了保證測(cè)量的精確性，可以在測(cè)量測(cè)試件之前先進(jìn)行鐵基校準(zhǔn)。
校準(zhǔn)方法：在儀器開機(jī)狀態(tài)下，將探頭垂直的放在被測(cè)試件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量兩次，測(cè)完第二次按住探頭不動(dòng)按下"CAL"鍵，伴隨著兩聲蜂鳴即可完成鐵基的校準(zhǔn)。如果沒發(fā)出兩聲蜂鳴說明操作有誤，重新按以上步驟操作直至發(fā)出兩聲蜂鳴即可。
(2) 兩點(diǎn)校準(zhǔn)
在測(cè)量過程當(dāng)中，如果發(fā)現(xiàn)個(gè)別測(cè)量值偏差較大可以通過兩點(diǎn)校準(zhǔn)方法進(jìn)行調(diào)整。
校準(zhǔn)方法：把個(gè)已知厚度的被測(cè)試件作為標(biāo)準(zhǔn)樣片進(jìn)行測(cè)量，如果顯示值與真實(shí)值不致，可以通過"▲"、"▼"鍵進(jìn)行加1或減1操作。按住"▲"、"▼"鍵不放可以進(jìn)行連續(xù)加、減，直到顯示值和真實(shí)值相同為止。校準(zhǔn)完成后即可進(jìn)行正常測(cè)量。
注意：兩點(diǎn)校準(zhǔn)時(shí)選用的被測(cè)試件厚度不要與系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)的五個(gè)樣片值接近，否則操作無效。
(3) 系統(tǒng)校準(zhǔn)
儀器在出廠前已經(jīng)經(jīng)過技術(shù)人員系統(tǒng)校準(zhǔn)，為保證精確度也可在工作現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行二次系統(tǒng)校準(zhǔn)。
系統(tǒng)校準(zhǔn)過程：
在關(guān)機(jī)狀態(tài)下同時(shí)按住"ON/OFF"鍵和"MENU"鍵，先放開"ON/OFF"鍵然后放開"MENU"鍵即可進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)模式。
本系統(tǒng)校準(zhǔn)共需要校準(zhǔn)五個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣片，進(jìn)入系統(tǒng)后首先顯示"鐵基"界面，此時(shí)要把探頭垂直的放到被測(cè)件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量兩次后如果測(cè)量沒有錯(cuò)誤操作，伴隨著兩聲蜂鳴便進(jìn)入第個(gè)樣片的測(cè)量。屏幕顯示出廠時(shí)提供的第個(gè)樣片值。如果顯示的樣片值和真實(shí)值不符，可以通過"▲▼"鍵來進(jìn)行加1或減1操作。按住"▲″或"▼"鍵不動(dòng)可以連續(xù)加或減，直到調(diào)整到顯示值和真實(shí)值相同為止。調(diào)整完樣片值之后即可對(duì)第個(gè)樣片進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量兩次無誤后，伴隨著兩聲蜂鳴，儀器進(jìn)入下個(gè)樣片的校準(zhǔn)。若測(cè)量兩次后仍無兩聲蜂鳴，說明操作有誤，重新測(cè)量次即可。接下來四個(gè)樣片的調(diào)整方法同上。
當(dāng)?shù)谖鍌�(gè)樣片校準(zhǔn)完成后屏幕顯示"0000''，進(jìn)入開機(jī)界面如圖A，儀器此時(shí)即完成了系統(tǒng)校準(zhǔn)過程。以后就可以對(duì)被測(cè)件直接進(jìn)行測(cè)量。 注意：這五個(gè)樣片可以使用儀器提供的標(biāo)準(zhǔn)片也可以使用已知厚度的樣片作為標(biāo)準(zhǔn)片。樣片校準(zhǔn)時(shí)要按照由小到大的順序進(jìn)行，相鄰樣片間應(yīng)該有定的差值。系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)所選用的鐵基必須是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。
如果由于現(xiàn)場(chǎng)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾或者操作不當(dāng)造成系統(tǒng)紊亂時(shí)，可以通過系統(tǒng)初始化設(shè)置進(jìn)行系統(tǒng)恢復(fù)。
系統(tǒng)初始化設(shè)置：
在關(guān)機(jī)狀態(tài)下，同時(shí)按住“▲▼”鍵不動(dòng)，然后按下"ON/OFF"鍵，直到屏幕顯示“OK”。松開“▲▼”鍵，初始化設(shè)置即可完成。此時(shí)儀器顯示“鐵基”，儀器進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)狀態(tài)，按照系統(tǒng)校準(zhǔn)的方法，校準(zhǔn)完成后即可正常測(cè)量。
3、在測(cè)量狀態(tài)下存儲(chǔ)
在測(cè)量狀態(tài)下屏幕顯示為新測(cè)量值，如需存儲(chǔ)按動(dòng)儀器上面的“ENTER”鍵，存儲(chǔ)地址自動(dòng)加1。例如當(dāng)前地址為0004，測(cè)量厚度值為1054um，存儲(chǔ)后地址變?yōu)?005，顯示界面如圖示。
屏顯結(jié)果只能被存儲(chǔ)次，如需另外存儲(chǔ)可重新測(cè)量。如果要從初始地址重新開始存儲(chǔ)可以在存儲(chǔ)讀出菜單下長按"ENTER"鍵，儲(chǔ)存序列號(hào)就會(huì)回歸至初始地址0001，即可開始重新儲(chǔ)存。
4、設(shè)置菜單使用：
無論在什么狀態(tài)下按住＂MENU＂鍵，儀器顯示四項(xiàng)功能菜單為：存儲(chǔ)讀出------打印-----通訊-----統(tǒng)計(jì)，按"▲▼"鍵可調(diào)節(jié)箭頭的位置來選擇不同的功能。(如圖B所示)例如要設(shè)置＂存儲(chǔ)讀出＂功能，在箭頭指向"存儲(chǔ)讀出"標(biāo)志時(shí)按住"ENTER"鍵，儀器就進(jìn)入存儲(chǔ)讀出狀態(tài)。
(1)、存儲(chǔ)讀出
本儀器可以連續(xù)存入600個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)，在進(jìn)入存儲(chǔ)讀出菜單后即可看到原來存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。通過"▲▼"鍵可以把不同存儲(chǔ)單元中的內(nèi)容顯示出來。
(2)、打印
首先把打印機(jī)準(zhǔn)備好，把打印機(jī)插好連線，裝入打印紙，接上電源。此時(shí)紅燈綠燈都亮，若是綠燈沒有亮，則按動(dòng)打印機(jī)上的"SEL"鍵，綠燈亮起說明打印機(jī)已準(zhǔn)備好。把打印機(jī)連線另頭三針插頭根據(jù)套紅管插針插入儀器帶紅點(diǎn)側(cè)的方向，插入儀器"PCI"接口，儀器在"打印"功能狀態(tài)時(shí)按"▲"鍵，儀器開始打印，長按"▼"鍵結(jié)束打印。
(3)、通訊
打開通訊軟件，把軟件上的"打開串口"打開，其它設(shè)置都是默認(rèn)設(shè)置。儀器在"通訊"功能狀態(tài)時(shí)按"▲"鍵，儀器開始通訊，長按"▼"鍵結(jié)束通訊。
(4)、統(tǒng)計(jì)
為了有效的處理分析測(cè)量數(shù)據(jù)，本儀器帶有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能。進(jìn)入統(tǒng)計(jì)菜單后，會(huì)顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的大值、小值和平均值。在測(cè)量狀態(tài)下屏幕顯示為新測(cè)量值，儀器對(duì)測(cè)量值進(jìn)行自動(dòng)存儲(chǔ)。屏幕上方"S"后面顯示的數(shù)字是進(jìn)入統(tǒng)計(jì)的數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)，為保證統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的有效性，在測(cè)量少于8次時(shí)不顯示平均值，過8次只統(tǒng)計(jì)后測(cè)量的8個(gè)數(shù)據(jù)。
在測(cè)量過程當(dāng)中，如果發(fā)現(xiàn)有個(gè)別數(shù)據(jù)的偏差明顯較大，可以拿開探頭在非測(cè)量狀態(tài)下按住"CAL"鍵來刪除，以免該數(shù)據(jù)進(jìn)入數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)運(yùn)算。此時(shí)屏幕出現(xiàn)“0000µm”，即可重新測(cè)量數(shù)據(jù)。在統(tǒng)計(jì)狀態(tài)下直接進(jìn)行測(cè)量，儀器就自動(dòng)返回到測(cè)量狀態(tài)。

MC-2000A型涂層測(cè)厚儀的注意事項(xiàng)：
（１）測(cè)量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時(shí)，應(yīng)在未涂覆的工件上校準(zhǔn)，以保證測(cè)量精度。
（２）在曲率半徑較小的凹面內(nèi)測(cè)量時(shí)，應(yīng)重新校正。

MC-2000A型涂層測(cè)厚儀的影響因素：
基體金屬磁化
磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
基體金屬厚度
每種儀器都有個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件過允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
表面粗糙度
基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在
不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。
如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。
附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
探頭的放置
探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。
試片的變形
探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
讀數(shù)次數(shù)
通常儀器的每次讀數(shù)并不完全相同。因此必須在每測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。

MC-2000A型涂層測(cè)厚儀的維護(hù)檢修：
1、儀器應(yīng)防止潮濕、過熱和接觸腐蝕性氣體和液體。
2、不可晃動(dòng)或揪扯探頭線。
3、儀器應(yīng)保持清潔。
4、儀器長期不用時(shí)應(yīng)取出電池。
5、測(cè)量不正常時(shí)應(yīng)作下述處理：
Ａ：每次使用必須先插上探頭然后再開機(jī)。
Ｂ：查電壓是否正常，電池正負(fù)極是否接觸良好。
Ｃ：測(cè)量方法是否得當(dāng)。
D：重大故障送廠或廠維修部修理。

MC-2000A型涂層測(cè)厚儀的裝箱清單：
、涂層測(cè)厚儀主機(jī)（MC-2000A） 臺(tái)
二、1.5v電池 (7號(hào)) 二節(jié)
三、探頭 支
四、標(biāo)準(zhǔn)樣片 盒
五、小鋁箱    個(gè)
六、說明書、合格證 套
選配件：微型打印機(jī), 數(shù)據(jù)線, 操作軟件, 內(nèi)防腐探頭

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